小型高低溫交變試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

可定制，步入式高低溫試驗(yàn)室，芯片高低溫試驗(yàn)箱，模擬氣候試驗(yàn)箱，可根據(jù)樣品尺寸大小，定制規(guī)格。

用于測試各類電子元器件進(jìn)行精準(zhǔn)高溫、低溫、高低溫、恒溫恒濕，環(huán)境變化后的參數(shù)及性能（濕熱老化，高低溫儲(chǔ)存，高低溫循環(huán)等測試環(huán)境）。

配件 ： 窗口，下上可調(diào)隔板兩片，測試孔Φ50mm  1孔，箱內(nèi)燈，濕布5片.記錄儀(選購)

符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1-2001/GB/T2423.2-2001/GB/T2423.3-1993/GB/T2423.4-1993

小型高低溫交變試驗(yàn)箱，設(shè)備選型如下；